> ◇ 熟悉可測性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
◇ 全面掌握可測性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
◇ 有效構(gòu)建可測性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺和貨架技術(shù)
● 課程內(nèi)容介紹:
一、可測性設(shè)計(jì)(DFT)概述
1、產(chǎn)品生命周期V模型 2、電子信息產(chǎn)品測試所面臨的問題 3、什么是可測性設(shè)計(jì)(DFT)
4、思考:如何深刻理解可測性設(shè)計(jì)(DFT) 5、可測性的物理特征表述 6、可測性的測度形式
討論:以下各功能模塊的可測性測度是怎樣的?
7、可測性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析 8、可測性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素 9、IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
10、可測性設(shè)計(jì)(DFT)基本過程11、可測性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語及縮略語
二、可測性設(shè)計(jì)(DFT)需求
1、整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源 2、整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
3、單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源 4、單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
5、單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源 6、單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
7、單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求來源 8、單板生產(chǎn)測試的抽象模型
思考:單板生產(chǎn)測試的目的是什么?
9、單板生產(chǎn)測試路線 10、單板生產(chǎn)工藝測試基本原理
11、單板生產(chǎn)功能測試基本原理 12、單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求
討論:本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測試方案和路線是怎樣的?
13、JTAG在生產(chǎn)測試中的應(yīng)用 14、JTAG在生產(chǎn)測試中的可測性設(shè)計(jì)(DFT)需求
15、單板維修可測性設(shè)計(jì)(DFT)需求
思考:本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段?
三、可測性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
1、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測試控制物理通道
2、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測試命令集
3、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測試控制管理
4、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測試信息存儲與輸出
5、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部儀器輸入輸出接口
6、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動生成
7、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯數(shù)據(jù)源自動生成
8、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動生成
9、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動生成
10、能控性設(shè)計(jì)——測試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動
11、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
12、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
13、能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
14、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
15、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
16、BIST設(shè)計(jì)——通道分層環(huán)回
17、BIST設(shè)計(jì)——故障診斷
18、BIST設(shè)計(jì)——初始化自檢
案例解讀
四、單板可測性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
1、機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 2、自檢和自環(huán)設(shè)計(jì) 3、工裝夾具設(shè)計(jì) 4、測試點(diǎn)設(shè)計(jì) 5、芯片控制引腳設(shè)計(jì) 6、邊界掃描測試設(shè)計(jì) 7、EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì) 8、如何設(shè)計(jì)以減少測試點(diǎn)
五、可測性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
1、可測性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
2、可測性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
3、交流與探討:如何構(gòu)建可測性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)
● 講師介紹:程春金
資深講師研發(fā)工程技術(shù)產(chǎn)線總監(jiān) APECG 測試工程首席專家 中國電子協(xié)會 ATE 測試分會會員
工作經(jīng)驗(yàn): 華為公司從事通訊產(chǎn)品可測試設(shè)計(jì)的研究及開發(fā)工作,曾參與大型程控交換機(jī)、光通信產(chǎn)品、會議電視系統(tǒng)項(xiàng)目的可測試及可制造性工程實(shí)施,歷任華為中央硬件研發(fā)平臺部開發(fā)經(jīng)理,兆天網(wǎng)絡(luò)中試部經(jīng)理等