硬件白盒測(cè)試，王斌內(nèi)訓(xùn)課程

《硬件白盒測(cè)試》課綱內(nèi)容：

【課程概要】
大部分企業(yè)在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的樣品階段和小批量驗(yàn)證階段大多進(jìn)行了較多的黑盒測(cè)試，如EMC試驗(yàn)、高溫、低溫等環(huán)境試驗(yàn)，振動(dòng)、跌落等機(jī)械試驗(yàn)、老化試驗(yàn)等。黑盒測(cè)試是把產(chǎn)品當(dāng)成一個(gè)黑匣子，對(duì)其施加各種應(yīng)力，以求在一定應(yīng)力條件下暴露一些產(chǎn)品的可靠性隱患。由于黑盒測(cè)試所施加的應(yīng)力種類(lèi)和水平有限，同時(shí)黑盒測(cè)試時(shí)往往是為了暴漏產(chǎn)品的功能問(wèn)題，從目前統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)來(lái)看，黑盒測(cè)試暴露可靠性隱患的效率有限，且投入巨大。
白盒測(cè)試是把產(chǎn)品的外殼打開(kāi)，實(shí)實(shí)在在地去測(cè)量每一根信號(hào)線，每一個(gè)電源，每一個(gè)接口的信號(hào)和時(shí)序，除了常規(guī)的波形觀察之外，對(duì)波形的各項(xiàng)指標(biāo)、時(shí)序的各項(xiàng)指標(biāo)都進(jìn)行測(cè)試，分析波形是否符合設(shè)計(jì)預(yù)期，同時(shí)根據(jù)各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)試結(jié)果判斷是否符合設(shè)計(jì)要求，并保留一定的余量，保證在抽樣測(cè)試時(shí)也能兼顧批次間差異的影響，保證長(zhǎng)期大量生產(chǎn)的穩(wěn)定性。從歷史經(jīng)驗(yàn)表明，白盒測(cè)試還能夠發(fā)現(xiàn)一些隱蔽性強(qiáng)的可靠性隱患，并對(duì)于占返修率較大比例的返修不重現(xiàn)問(wèn)題也能夠有效暴露出來(lái)。相比于黑盒測(cè)試，白盒測(cè)試的投入并不大，投入產(chǎn)出率高得多。
本課程就是基于以上現(xiàn)狀，從基本的儀器的使用基礎(chǔ)出發(fā)，講解白盒測(cè)試相關(guān)的原理性知識(shí)，并附有大量的實(shí)用測(cè)試案例。

【培訓(xùn)對(duì)象】
產(chǎn)品經(jīng)理、研發(fā)經(jīng)理、質(zhì)量經(jīng)理、可靠性工程師、硬件工程師、測(cè)試工程師、質(zhì)量工程師等

【培訓(xùn)收益】
 掌握各類(lèi)硬件電路的測(cè)試方法。

【課程大綱】
1. 白盒測(cè)試之測(cè)試儀器篇——示波器基礎(chǔ)
（1） 示波器基礎(chǔ)知識(shí)：講解各種類(lèi)別示波器的原理和特點(diǎn)
（2） 示波器使用：講解示波器的選擇、使用方法和使用注意事項(xiàng)
（3） 探頭基礎(chǔ)知識(shí)：講解各種探頭的原理和特點(diǎn)
（4） 探頭使用：講解探頭的選擇、使用方法和注意事項(xiàng)
2 硬件白盒測(cè)試之模擬電路
（1） 模擬電路測(cè)試基礎(chǔ)：講解各種基本模擬電路的測(cè)試原理和重點(diǎn)
（2） 運(yùn)放及相關(guān)電路測(cè)試：講解運(yùn)放的設(shè)計(jì)特點(diǎn)和測(cè)試要求
（3） 模數(shù)轉(zhuǎn)換器測(cè)試：講解各種高速和低速ADC的設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)和測(cè)試點(diǎn)
（4） 數(shù)模轉(zhuǎn)換器測(cè)試：講解各種高速和低速DAC的設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)和測(cè)試點(diǎn)
3 信號(hào)完整性測(cè)試
（1） 信號(hào)完整性測(cè)試的重要性（理想邏輯電壓波形、實(shí)際邏輯波形、數(shù)據(jù)采樣及時(shí)序的例子）
（2） 信號(hào)質(zhì)量常用測(cè)試方法（振幅參數(shù)、時(shí)間參數(shù)的測(cè)量、共模和差模信號(hào)的測(cè)量、眼圖的測(cè)量）
（3） 信號(hào)時(shí)序常用測(cè)試方法（建立時(shí)間、保持時(shí)間、傳輸延遲、SKEW的測(cè)試方法）
（4） 常見(jiàn)的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題（質(zhì)量與時(shí)序的關(guān)系，常見(jiàn)三種SI問(wèn)題：反射、串?dāng)_和噪聲，EMC/EMI與SI的關(guān)系）
（5） 設(shè)計(jì)中的SI問(wèn)題（上升時(shí)間與信號(hào)完整性，傳輸線的種類(lèi)，反射的產(chǎn)生和如何消除，串?dāng)_的產(chǎn)生和消除，電源/地噪聲如何消除等）
4 電源質(zhì)量測(cè)試
（1） 幅值測(cè)試：講解各種電源幅值的問(wèn)題、測(cè)試方法和測(cè)試注意事項(xiàng)
（2） 紋波/噪聲測(cè)試：講解各種電源紋波/噪聲的定義、來(lái)源、產(chǎn)生機(jī)理、可靠性影響、消除方法、測(cè)試方法和測(cè)試注意事項(xiàng)
5 常見(jiàn)通訊方式測(cè)試
（1） SPI、I2C、Uart和USB等特點(diǎn)和測(cè)試要求
（2） 無(wú)線通訊（藍(lán)牙、wifi等）測(cè)試特點(diǎn)和要求
6 其他測(cè)試等
（1） 復(fù)位/watchdog測(cè)試
（2） 電源上電浪涌測(cè)試
（3） 斷電及熱插拔測(cè)試
（4） ……

【王斌老師介紹】
資歷：
華中科技大學(xué)檢測(cè)技術(shù)與自動(dòng)化裝置碩士。
工作經(jīng)歷：
十年以上中國(guó)著名電子儀器企業(yè)的研發(fā)中心歷任硬件開(kāi)發(fā)工程師，高級(jí)硬件工程師，項(xiàng)目經(jīng)理，部門(mén)經(jīng)理。期間負(fù)責(zé)各類(lèi)測(cè)控采集板、主控板和電源板卡的設(shè)計(jì)和功能測(cè)試，兼容性，可靠性，穩(wěn)定性測(cè)試，有著豐富的硬件開(kāi)發(fā)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，并協(xié)同制定公司內(nèi)部硬件開(kāi)發(fā)和測(cè)試規(guī)范流程。
專(zhuān)長(zhǎng)領(lǐng)域：
熟悉各種模擬電路設(shè)計(jì)測(cè)試（高低速ADC、DAC和運(yùn)放等），數(shù)字電路設(shè)計(jì)（MCU、DSP、FPGA和射頻等），電源設(shè)計(jì)（DC/DC、LDO等）以及各類(lèi)高低速和無(wú)線通訊方式（RS232/485/422、USB、SPI、I2C、1-wire、CAN、PCI、Bluetooth、Wifi等）的設(shè)計(jì)和測(cè)試等。
授課特點(diǎn):
來(lái)自實(shí)際的豐富案例，邏輯線條清晰，學(xué)以致用。
培訓(xùn)客戶(hù)：
�？低暪�、比亞迪、固高科技、中興通訊、步步高、西安東風(fēng)儀表廠、Optel通訊、廈門(mén)華僑電子、海爾、美的集團(tuán)、格力電器、創(chuàng)維集團(tuán)、康佳集團(tuán)、蘇州萬(wàn)旭光電、聯(lián)想集團(tuán)、海信集團(tuán)、同洲電子、同維電子、TCL、大族激光、邁瑞生物醫(yī)療。
授課特點(diǎn):
來(lái)自實(shí)際的豐富案例，邏輯線條清晰，學(xué)以致用。
主講課程:
硬件白盒測(cè)試